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產品介紹：

藉由于晶圓檢測上實現多單位平行測試(ParallelTesting),并利用降低探針(Cobra、Vertical MEMS)于測試時對焊墊(Pad)及凸塊(Bump)造成之損傷,以提升測試效率及生產能力。

設計及生產新型微機電制程垂直式探針卡,并命名為WM"(Will TechnologyVertical MEMS),

應用于多單位平行晶圓測試(Multi-Die Testing)及高速裝置。

產品特性：

借Low Force Probing降低受測品損傷

電性接觸(Electrical Contact)表現穩定

低檢測電阻(Low CRes.)

高載電流量(C.C.C.)

重點規格：