高品質探針 先進材料結構 精益鍍層處理 優質組裝工藝
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產品介紹:
應用于CIS lmage芯片晶圓測試,利用半導體光刻制程制造之探針,于高密度陣列(High Density Needle Array)硅晶圓檢測時,可保持雜訊低及電性穩定之特性。
特性:
借穩定微機電針尖(MEMS Tip)提升測試良率(Yield)
16Site,30Site,64Site矩陣陣列
重點規格
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